產(chǎn)品名稱(chēng)：牛津儀器CMI165手持式面銅測厚儀
產(chǎn)品型號：CMI165面銅測厚儀
更新時(shí)間：2023-12-02
產(chǎn)品特點(diǎn)：牛津儀器CMI165手持式面銅測厚儀，CMI165®帶溫度補償功能的面銅測厚儀 手持式面銅測厚儀，牛津儀器CMI165系列用于測試高/低溫的PCB銅箔、蝕刻或整平后的銅厚定量測試、電鍍銅后的面銅厚度測量，在PCB鉆孔、剪裁、電鍍等工序前進(jìn)行相關(guān)銅箔來(lái)料檢驗
CMI165面銅測厚儀牛津儀器CMI165手持式面銅測厚儀的詳細資料：
牛津儀器CMI165手持式面銅測厚儀
CMI165®帶溫度補償功能的面銅測厚儀 手持式面銅測厚儀，牛津儀器CMI165系列用于測試高/低溫的PCB銅箔、蝕刻或整平后的銅厚定量測試、電鍍銅后的面銅厚度測量，在PCB鉆孔、剪裁、電鍍等工序前進(jìn)行相關(guān)銅箔來(lái)料檢驗
牛津儀器CMI165手持式面銅測厚儀厚度測量范圍：
化學(xué)銅：0.25μm–12.7μm（0.01mils–0.5mils）
電鍍銅：2.0μm–254μm（0.1mil–10mil）
線(xiàn)性銅線(xiàn)寬范圍：203μm–7620μm（8mil–300mil）
儀器再現性：0.08μm at 20μm（0.003 mils at 0.79 mils）
顯示單位：mil、μm、oz
操作界面：英文、簡(jiǎn)體中文
存 儲 量：9690條檢測結果（測試日期時(shí)間可自行設定）
測量模式：固定測量、連續測量、自動(dòng)測量模式
統計分析：數據記錄，平均數，標準差，上下限提醒功能
特點(diǎn)
應用先進(jìn)的微電阻測試技術(shù)，符合EN14571測試標準。SRP-T1探頭由四支探針組成，AB為正極CD為負極；測量時(shí)，電流由正極到負極會(huì )有微小的電阻，通過(guò)電阻值和厚度值的函數關(guān)系準確可靠得出表面銅厚，不受絕緣板層和線(xiàn)路板背面銅層影響
耗損的SRP-T1探頭可自行更換，為牛津儀器產(chǎn)品
儀器的照明功能和SRP-T1探頭的保護罩方便測量時(shí)準確定位
儀器具有溫度補償功能，測量結果不受溫度影響
儀器為工廠(chǎng)預校準
測試數據通過(guò)USB2.0 實(shí)現高速傳輸，可保存為Excel文件
儀器使用普通AA電池供電
配置
CMI165主機
SRP-T1探頭
NIST認證的校驗用標準片1個(gè)
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